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XGZ-3 全息照相系列實驗 全息照相可以實現對物體的高密度存儲、加密及三維顯示。全息照相和常規照相不同，在底片上記錄的不是三維物體的平面圖像，而是光場本身。常規照相只記錄了反映被拍物體表面光強的變化，即只記錄光的振幅，全息照相則記錄光波的全部信息，除振幅外還記錄了光波的位相。即把三維物體光波場的全部信息都貯存在記錄介質中。

XGZ-1 信息光學實驗 本實驗具有較強的實踐性和技術性，是一組理論與實踐并重的實驗。本實驗通過新穎的光學實驗現象可以使學生加深對有關理論知識（空間頻譜、光學傅立葉變換及全息學）的理解，進一步拓寬學生的知識面，培養學生良好的實驗素質。

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置 利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。 實驗內容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體面內位移的方法

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統 電子散斑干涉（ESPI）實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現代光測技術。激光的高相干性使散斑現象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數據和圖像。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

SGD-2 單光子計數實驗系統 該實驗系統，由單光子計數器，半導體制冷系統，外光路光學系統，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統采用了脈沖高度甄別計數和數字計數技術，具有較高的線性動態范圍。輸出的數字信號，便于計算機處理，為教師做相關教學提供了必要的實驗環境。

WGL-8晶體電光調制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調制器的使用，掌握晶體電光調制的原理和實驗方法；學會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓，電光常數；觀察電光效應引起的晶體光學特性的變化和會聚偏振光的干涉現象；進行激光通信演示實驗。

WGL-3 脈沖調Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置 該實驗系統讓學生通過自己動手裝調激光器，掌握激光器的基本結構、主要參數、輸出特性、調整方法、以及調Q、選模、倍頻等。使學生對激光器的原理，激光技術有較全面的認識。

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置 在激光器的生產與應用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩頻和激光測距等不僅要基橫模而且要求單縱模運行的激光器。因此，進行模式分析是激光器的一項基本又重要的性能測試。

WGL-5 半導體激光器實驗系列 儀器介紹 通過測量半導體激光器的功率，電壓和電流，讓學生了解半導體激光器在連續輸出下的工作特性。用WGD-6光學多道分析器觀測，半導體激光器注入電流小于閾值時發射的熒光，和大于閾值電流時產生激光振蕩的譜線變化。